2022年國(guó)防科技大學(xué)F0303數(shù)字電子技術(shù)考研大綱及參考書目

• 2025考研復(fù)試標(biāo)準(zhǔn)班
• 26考研全科上岸規(guī)劃營(yíng)「擇校▪規(guī)劃▪備考」
• 國(guó)防科技大學(xué)2026考研專業(yè)課復(fù)習(xí)資料「真題▪筆記▪講義▪題庫(kù)」

2022年碩士研究生復(fù)試考試自命題科目考試大綱

科目代碼：F0303 科目名稱：數(shù)字電子技術(shù)

一、考試要求

主要考查學(xué)生對(duì)邏輯代數(shù)基本概念的理解與掌握;對(duì)組合邏輯電路、時(shí)序邏輯電路分析與設(shè)計(jì)方法的理解與掌握;對(duì)邏輯門電路、脈沖波形產(chǎn)生與整形、半導(dǎo)體存儲(chǔ)器和可編程邏輯器件、模數(shù)/數(shù)模轉(zhuǎn)換器件等相關(guān)概念的理解與掌握;以及運(yùn)用基本理論知識(shí)來(lái)分析設(shè)計(jì)實(shí)際數(shù)字電路及數(shù)字系統(tǒng)的能力。

二、考試內(nèi)容

1.邏輯代數(shù)基礎(chǔ)

數(shù)制與碼制的基本概念，邏輯代數(shù)的基本概念、基本運(yùn)算、描述方法及三大定理，邏輯函數(shù)的公式化簡(jiǎn)法，邏輯函數(shù)的卡諾圖化簡(jiǎn)法及具有無(wú)關(guān)項(xiàng)的邏輯函數(shù)及其化簡(jiǎn)。

2.邏輯門電路

邏輯門電路的基本概念，半導(dǎo)體器件的開(kāi)關(guān)特性，典型CMOS集成門電路和典型雙極型集成門電路，重點(diǎn)是TTL門電路的電路結(jié)構(gòu)和工作原理，以及邏輯門電路使用注意事項(xiàng)的理解與應(yīng)用。

3.組合邏輯電路

組合邏輯電路的結(jié)構(gòu)及功能特點(diǎn)，基于門電路的組合邏輯電路的分析和設(shè)計(jì)方法，常用中規(guī)模組合邏輯電路(如編碼器、譯碼器、數(shù)據(jù)分配器、數(shù)據(jù)選擇器、加法器、數(shù)值比較器等)的工作原理、門級(jí)電路設(shè)計(jì)及MSI集成芯片應(yīng)用，對(duì)組合邏輯電路中競(jìng)爭(zhēng)-冒險(xiǎn)現(xiàn)象的理解。

4.觸發(fā)器

觸發(fā)器概念和基本特點(diǎn)，同步、主從、邊沿等不同觸發(fā)類型觸發(fā)器的電路結(jié)構(gòu)與狀態(tài)轉(zhuǎn)換分析，觸發(fā)器的邏輯功能及其描述方法。

5.時(shí)序邏輯電路

時(shí)序邏輯電路結(jié)構(gòu)和功能上的基本特點(diǎn)、描述方法及分類，基于觸發(fā)器和門電路的時(shí)序邏輯電路的分析與設(shè)計(jì)，常用中規(guī)模時(shí)序邏輯電路(如計(jì)數(shù)器、移位寄存器、序列信號(hào)發(fā)生器、順序脈沖發(fā)生器等)的工作原理和相應(yīng)中規(guī)模集成電路的功能分析與應(yīng)用，對(duì)時(shí)序邏輯電路中競(jìng)爭(zhēng)-冒險(xiǎn)現(xiàn)象的理解。

6.半導(dǎo)體存儲(chǔ)器及可編程邏輯器件

半導(dǎo)體存儲(chǔ)及可編程邏輯器件的基本概念，發(fā)展?fàn)顩r、分類及其技術(shù)指標(biāo)，隨機(jī)存取存儲(chǔ)器(RAM)與只讀存儲(chǔ)器(ROM)的電路結(jié)構(gòu)和特點(diǎn)，存儲(chǔ)器的容量擴(kuò)展及應(yīng)用舉例，ROM實(shí)現(xiàn)組合邏輯函數(shù)的方法，典型可編程邏輯器件(如CPLD、FPGA)的電路結(jié)構(gòu)及特點(diǎn)。

7.脈沖波形的產(chǎn)生和整形

555時(shí)基電路的電路結(jié)構(gòu)、工作原理，施密特觸發(fā)電路、單穩(wěn)態(tài)觸發(fā)電路和多諧振蕩器等幾種典型脈沖產(chǎn)生與整形單元電路的特點(diǎn)及多種構(gòu)成電路的工作原理，施密特、單穩(wěn)態(tài)和多諧振蕩電路的典型應(yīng)用。

8.DAC和ADC

數(shù)-模轉(zhuǎn)換(DAC)和模-數(shù)轉(zhuǎn)換(ADC)的基本概念及分類，典型DAC(如權(quán)電阻網(wǎng)絡(luò)DAC、倒T型電阻網(wǎng)絡(luò)DAC等)的工作原理及具體應(yīng)用，DAC的主要性能指標(biāo);典型直接型ADC(如并聯(lián)比較型ADC、反饋比較型ADC等)的工作原理及電路特點(diǎn)，典型間接型ADC(如雙積分型ADC、V-F型ADC等)的工作原理及電路特點(diǎn)，ADC的主要性能指標(biāo)。

三、考試形式

考試形式為閉卷、筆試，考試時(shí)間為2小時(shí)，滿分100分。

題型包括：填空題10分、選擇題20分、分析與設(shè)計(jì)題70分等。

四、參考書目

1.《數(shù)字電子技術(shù)基礎(chǔ)》.閻石主編.高等教育出版社，2016，第六版。

2.《數(shù)字電路與邏輯設(shè)計(jì)(Verilog HDL&Vivado版)》.湯勇明等主編.清華大學(xué)出版社，2017，第一版。