華中科技大學機械學院研究生導師：劉曉軍

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個人基本情況

姓名：劉曉軍

電話：027-87543970-2511

職稱：教授

郵箱：mexjl@hust.edu.cn

劉曉軍(Liu Xiaojun，Professor)，湖北天門人，1968年生，博士，教授、博士生導師。儀器科學與技術系主任。全國高校互換性與測量技術研究會秘書長、教育部制造技術國際標準研究中心副主任、武漢標準化協(xié)會副理事長、中國計量測試學會計量儀器專業(yè)委員會委員。

主要研究方向

1.光學精密測量技術及儀器

2.表面測量及分析

3.精密工程

4.納米材料性能測試及應用

開設課程

《精密機械設計》

《精密儀器設計》

《學科概論》

《工程實驗設計》

《先進儀器學》

《專業(yè)課程設計》

近年的科研項目、專著與論文、專利、獲獎承擔的科研項目：

1. 國家自然科學基金“白光同步相移顯微干涉動態(tài)表面形貌精密測量技術與系統(tǒng)研究” (51475192)

2.國家重大科學儀器專項“高端表面形貌測量系列儀器研究與開發(fā)”(2011YQ160013)

3. 國家自然基金項目“功能表面形貌觸針掃描三維精密測量與特征分析的關鍵技術研究” (51075169)

4. 863重點項目“微納三維測量技術與裝置“精密表面形貌測量”

5.國家自然基金項目“同步相移剪切干涉表面在線精密測量研究”

6 數(shù)字制造裝備與技術國家重點實驗室重點課題：“納米材料機械性能測試與納米組裝平臺及關鍵技術研究”

7.湖北省自然基金重點項目“三維表面形貌綜合測量分析與評定研究”

專利：

(1) 一種基于偏振相移顯微干涉術的超精表面測量系統(tǒng)，專利號：201010227703.X，授權日：2011.7.20

(2)一種觸針式輪廓儀傳感器靜態(tài)及動態(tài)特性的檢定裝置，專利號：2012104231519，授權日：2013.8.7

(3) 一種工作臺運動直線度實時測量裝置， 專利號：201210385449.5，授權日：2013.12.18

(4) 雙正交衍射光柵計量系統(tǒng)及其構成的共基面掃描工作臺，專利號：200910272840.2

(5) 一種基于白光干涉定位原理的比較儀及其檢測方法，申請日：2012.9.7，申請?zhí)枺?01210328100.8

(6) 一種適用于納米材料操控的多自由度納米操作臺. 申請日：2014年3月27日，申請?zhí)? 201410118898.2。

(7)一種可控大長徑比納米探針的制備裝置. 申請日：2014年3月27日，申請?zhí)? 201420380188.2。

軟件著作權：

(1)表面形貌測量軟件V1.0. 登記證號：2013SR062365

(2)表面形貌三維濾波工具箱V1.0. 登記證號：2013SR062361

(3)三維表面形貌顯示操作軟件V1.0.. 登記證號：2013SR062369

代表性著作：

[1] A partial differential equation algorithm for wavefront reconstruction in lateral shearing interferometry，J Opt A: Pure Appl Opt, Vol.11(4):. 045702-1~11，2009

[2] A new lateral shearing interferometer for precision surface measurement，Optics and Lasers in Engineering，2009, Vol.47(9):926-934

[3] Improved Hough Transform for Automatic Aspect Ratio Evaluation of 3D Oriented Microstructures. SENSOR LETTERS, 2011, 9(4): 1-5. (SCI:903XD)

[4] High-speed Parallel Wavelet Algorithm Based on CUDA and its Application in Three-dimensional Surface Texture Analysis. Proc. of the IEEE International Conference on Electric Information and Control Engineering, 2011: 2249-2252 (EI：12127656)

[5] Non-linear Dynamic Compensation and Re-sampling for Tactile Scanning Measurement of Curved Surface Topography based on GPS Standard, Measruement, 2012, 45(6):1633-1638. (SCI：950II)

[6] Three-dimensional surface measurement by amplified off-axis digital holography, ISPEMI 2012, Proceedings of SPIE.(EI: 20131516204321)

[7] 基于低相干光平面波照明的離軸數(shù)字全息顯微測量. 華中科技大學學報，2012,40(4): 46-48. (EI:20122415111525)

[8] A Parameter Prediction Model of runing-in based on Surface Topography. Journal of Engineering Tribology. 2013,227(9):1047-1055 (SCI:197TD)

[9]一種新穎的微機電系統(tǒng)微結構顯微圖像三維自動拼接方法，機械工程學報，2013, 49(18):85-91

[10]Surface topography characterization in steel running-in process of dry sliding friction, Applied Mechanics and Materials, 278-280(414-417), 2013 (EI:20130615997360)

[11]Investigation of surface topography at the end of running-in process. Applied Mechanics and Materials, 437:564-567, 2013 (EI:20134516951448)

[12]基于有限Radon變換的MEMS結構方向提取. 華中科技大學學報，2013,41(11):68-70

[13]Prediction of Surface Topography at the End of Sliding Running-In Wear Based on Areal Surface Parameters, TRIBOLOGY TRANSACTIONS，V. 57(3)，P.553-560,2014

[14] Electrical characteristics of single ZnO nanowire with Cu and Au electrodes under axial strain. Science of Advanced materials, 6(2014), 1937-2935

[15] Design and implementation of shape memory alloy–actuated nanotweezers for nanoassembly. Journal of Micromechanics and Microengineering, 24(2014), 0960-1317.