山東大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院碩士生導(dǎo)師介紹：陳杰智

• 2025考研復(fù)試標(biāo)準(zhǔn)班
• 26考研全科上岸規(guī)劃營(yíng)「擇校▪規(guī)劃▪備考」
• 山東大學(xué)2026考研專業(yè)課復(fù)習(xí)資料「真題▪筆記▪講義▪題庫(kù)」

導(dǎo)師簡(jiǎn)介： 2006年至2009年在東京大學(xué)生産技術(shù)研究所從事于硅基納米線MOSFET器件制備和載流子輸運(yùn)物理機(jī)制的研究； 2010年至2016年，在日本東芝研究開(kāi)發(fā)中心主要從事于納米器件及NAND閃存存儲(chǔ)器的可靠性機(jī)理的研究； 2016年來(lái)到山東大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院從事科研教學(xué)工作, 擔(dān)任山東大學(xué)信息科學(xué)與工程學(xué)院教授。 學(xué)術(shù)成果已連續(xù)多年在國(guó)際權(quán)威器件學(xué)術(shù)會(huì)議IEDM和VLSI Symposium上報(bào)告， 并已獲得多項(xiàng)國(guó)際專利。 目前為IEDM國(guó)際電子器件學(xué)會(huì)委員以及IEEE 系列雜志審稿人，第十二批“青年****”入選者。
主要研究方向:
1.納米器件制備及載流子輸運(yùn)機(jī)制;
2.半導(dǎo)體存儲(chǔ)器器件及系統(tǒng)的可靠性特性；
3.器件結(jié)構(gòu)中材料缺陷的第一性原理計(jì)算；
4.器件及電路的TCAD仿真模擬；
5.云存儲(chǔ)系統(tǒng)中芯片指紋的設(shè)計(jì)和應(yīng)用。

聯(lián)系方式： chen.jiezhi@sdu.edu.cn